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高低溫低氣壓試驗箱(高低溫低氣壓/快速減壓試驗)

武漢金測實驗室的低氣壓試驗箱╃☁₪☁,溫度範圍覆蓋-40℃至150℃╃☁₪☁,低氣壓試驗的海拔高度達12000米╃☁₪☁,用於考核航空航天裝備↟☁、電子元器件或者其他產品在低氣壓↟☁、溫溼度綜合作用下的可靠性╃☁₪☁,可開展低氣壓試驗↟☁、高溫低氣壓↟☁、低溫低氣壓↟☁、快速減壓試驗等試驗專案▩◕╃。

適用範圍·╃▩:

可為電子↟☁、儀器儀表↟☁、汽車以及航天產品的元器件↟☁、結構件↟☁、元件以及整機等開展低氣壓試驗▩◕╃。

引數·╃▩:KJ-8210
測力解析度·╃▩:1/250000
試驗速度·╃▩:1-500mm/min
感測器額定容量·╃▩:2000KG
測力精度·╃▩:<±0.5%
試驗行程·╃▩:1000mm(不含夾具)
外形尺寸·╃▩:1700*1000*1500mm(長*寬*高)
機臺重量·╃▩:約500kg
使用電源·╃▩:單相╃☁₪☁,AC220V  50/60HZ

 
使用環境條件·╃▩:
溫度範圍·╃▩:-40~150℃
使用環境周溫·╃▩:+5~+30℃之間
內箱尺寸·╃▩:1000*1000*1000mm
 
參考標準如下·╃▩:
GB2421-1989《電工電子產品基本環境試驗規程總則》
GB/T2423.25-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AM·╃▩:低溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB/T2423.26-1992《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/BM ·╃▩:高溫/低氣壓綜合試驗方法》
GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD·╃▩:低溫/低氣壓/溼熱連續綜合試驗方法》
GB2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Z/AMD·╃▩:低溫/低氣壓/溼熱連續綜合試驗方法》
GB/T2424.15-1992《電工電子產品基本環境試驗規程溫度/低氣壓綜合試驗導則》
GB T 2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M 低氣壓試驗方法
GJB 150.2-1986軍用裝置環境試驗方法 低氣壓(高度)試驗
 
低氣壓裝置圖


低氣壓試驗專案圖片

 
 
低氣壓試驗曲線圖



 
客戶參與實驗專案照片

我們的優勢·╃▩:
1↟☁、人員配置齊全╃☁₪☁,所有測試員均熟悉可靠性基礎原理╃☁₪☁,能夠明確實驗目的╃☁₪☁,避免試驗失效;
2↟☁、測試標準解讀清晰(GB,GJB,MIL-STD,Bell Core╃☁₪☁,GR系列標準以及華為整機測試用例╃☁₪☁,烽火整機測試用例);
3↟☁、環境可靠性試驗裝置數量多╃☁₪☁,可承接批次或加急訂單;
4↟☁、輔助水↟☁、電↟☁、氣供應足夠╃☁₪☁,安全可靠;
5↟☁、能夠執行全面的環境可靠性試驗專案╃☁₪☁,非標專案能力強大;
6↟☁、擁有高效率的治具開發團隊及專業技術人員;
7↟☁、裝置能力強(-50℃~125℃範圍內快速溫變能力從3℃/min~41.5℃/min可控)↟☁、標準環境箱可允許最大發熱負載1200W(40℃╃☁₪☁,93%RH);
8↟☁、擁有獨立的維修和保養團隊(能夠修理全系列裝置)▩◕╃。

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